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レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置 Partica

堀場製作所 / 堀場製作所
ID:K04847
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先端マテリアルの研究開発や品質管理の効率化に貢献

Partica

    「粒子」の大きさは、製品の機能性を決定づける大切な要素の一つであり、半導体や二次電池、触媒、製薬をはじめとする「粉・パウダー」を用いる研究開発や品質管理の現場では、粒子を正確に測る高い技術が求められています。
    お客様の研究開発や品質管理体制のさらなる強化に貢献してまいります。

  • 粒子径分布測定と粒子形状解析機能の両立
    「Partica」は、粒子径分布*1測定機能と粒子形状解析機能を標準搭載。
    これにより、約1分で粒子径分布と形状情報の解析結果が得られ、研究開発や品質管理の高度化・効率化（測定時間を従来比 最大50%削減*2）に貢献します。
  • 業界トップクラスの高精度測定・ワイドレンジ
    従来機種の優位性を引き継ぎながら改良を重ね、業界トップクラス*3の高精度測定とワイドレンジ（測定可能粒子径範囲の広さ）を実現しました。
  • 操作性・拡張性を極めたプラットフォーム
    ソフトウェアの刷新により操作性を向上するとともに、作業の自動化やデータインテグリティなどお客様の多様な測定ニーズに応える拡張性の高いプラットフォームを構築しています。


    • *1　測定対象となる試料の粒子の大きさと頻度を示す指標
    *2　堀場製作所従来製品比較および堀場製作所調べ。使用方法や条件によって効果が異なる場合があります
    *3　堀場製作所調べ（2024年8月1日時点）

仕様

型番 Partica
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 705×520×470
重さ 57kg
電源 AC100-240V　50/60Hz　300VA
測定方式 レーザー回折・散乱式
動的画像解析式
測定時間 約1分
測定レンジ レーザー回折/散乱式
10ナノメートル～3ミリメートル（湿式*4）
100ナノメートル～5ミリメートル（乾式*5）
解像度 動的画像式
1ピクセルあたり最小0.24マイクロメートル
希望小売価格
（税抜）		 お問い合わせ
*4　湿式測定：試料を液体に分散させた状態で測定する手法
*5　乾式測定：試料を乾燥粉体の状態で測定する手法
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