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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡（走査型：SEM）・集束イオンビーム加工観察装置 （FIB）
日本電子 / 日本電子
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卓上走査電子顕微鏡 NeoScopeTM JCM-7000
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