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物性計測・成分分析装置・検査機器
粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計
大塚電子 / 大塚電子
大塚電子 / 大塚電子
ゼータ電位・粒子径測定システム ELSZneoSE
11,000,000円~ 
(税込 12,100,000円~)
11,000,000円~ 
(税込 12,100,000円~)
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物性計測・成分分析装置・検査機器
粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計
大塚電子 / 大塚電子
大塚電子 / 大塚電子
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
12,800,000円 
(税込 14,080,000円)
12,800,000円 
(税込 14,080,000円)
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物性計測・成分分析装置・検査機器
粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計
大塚電子 / 大塚電子
大塚電子 / 大塚電子
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
5,500,000円~ 
(税込 6,050,000円~)
5,500,000円~ 
(税込 6,050,000円~)