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メーカー/販売元:日本電子
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質量分析装置
GC/MSシステム(ガスクロマトグラフ)
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ガスクロマトグラフ四重極質量分析計 JMS-Q1600GC UltraQuadTM SQ-Zeta
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質量分析装置
四重極型・トリプル四重極型(QQQ)LC/MS, LC/MS/MS
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ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計 JMS-TQ4000GC
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
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アンビエントイオン化高分解能飛行時間型質量分析計
JMS-T100LP+DARTTM イオン源
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
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マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計
JMS-S3000 SpiralTOFTM -plus2.0
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
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大気圧イオン化高分解能飛行時間型質量分析計
JMS-T100LP AccuTOFTM LC-Express
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
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高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
JMS-T2000GC AccuTOFTM GC-Alpha
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構造解析・元素分析装置
核磁気共鳴装置
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FT NMR装置 JNM-ECZL series
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構造解析・元素分析装置
蛍光X線分析装置(XRF)
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卓上蛍光X線分析装置 JSX-1000S
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
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走査電子顕微鏡 InTouchScopeTM JSM-IT700HR
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
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走査電子顕微鏡 InTouchScopeTM JSM-IT200
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
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卓上走査電子顕微鏡 NeoScopeTM JCM-7000
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
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FIB-SEMシステム JIB-PS500i
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(透過型:TEM・STEM)
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透過電子顕微鏡 JEM-1400Flash
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡前処理装置
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断面試料作製装置 IB-19520CCP 冷却クロスセクションポリッシャTM
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡前処理装置
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断面試料作製装置 IB-19530CP クロスセクションポリッシャTM
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クリニカル用機器
生化学自動分析装置
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生化学自動分析装置 BioMajestyTM シリーズ
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