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高分子相構造解析システム PP-1000

大塚電子 / 大塚電子
ID:K02960
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小角光散乱（SALS）法による高分子相構造解析システム
ミクロンオーダーの散乱パターンで、大きさ、形状、構造をリアルタイムに評価可能

PP-1000

  • 散乱角度0.33°～45°の測定を最短10msec*1で測定可能
  • サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価
  • 専用のセルで溶液サンプルも測定可能
  • Hv散乱、Vv散乱測定をソフト上で簡単に切り替え可能
  • 卓上タイプで実験室に設置可能

    • *1 HDR機能を使用しない時

仕様

シリーズ 高分子相構造解析システム
型番 PP-1000
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 350×500×760
重さ 35kg
電源 AC100　75VA
測定原理 小角光散乱法
光源 半導体レーザ（波長785nm）
検出器 CMOSカメラ
測定範囲
（理論値）		 球晶径：1.3～175μm
相関長：0.1～100μm
ダイナミック
レンジ		 120db以上（HDR機能使用）
測定散乱角度 0.33°～45°（カメラ長に依存）
取得像 Hv光散乱像、Vv光散乱像
測定スポット径 約1mm
ビームストッパー φ3mm
測定時間 10msec～ *1
希望小売価格
（税抜）		 お問い合わせ
*1 HDR機能使用時は100msec～
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  • ※価格に消費税は含まれておりません。
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