研究機器オンライン
検索結果： 23件メーカー: 大塚電子
| カテゴリ | メーカー/商品名 | 希望小売価格 (円/税抜) | ||
|---|---|---|---|---|
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 スタティック光散乱光度計 SLS-6500HL |
9,900,000 | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS |
12,000,000 | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 ゼータ電位測定システム ELSZ-2000Z |
8,800,000 | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500 series |
9,800,000～ | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series |
12,800,000～ | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000 |
15,000,000～ | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA |
5,500,000 | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 粒径・分子量測定システム ELSZ-2000S |
7,800,000 | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 粒度分布計/粒子分析計/ゼーター電位/光散乱光度計 |
大塚電子 高分子相構造解析システム PP-1000 |
9,000,000～ | |
 |
物性計測・成分分析装置・検査機器 屈折計・糖度計・濃度計 |
大塚電子 高感度示差屈折計 DRM-3000 |
2,500,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光光度計 |
大塚電子 分光配光測定システム GP series |
お問い合わせ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光光度計 |
大塚電子 高感度分光放射輝度計 HS-1000 |
3,500,000～ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光光度計 |
大塚電子 高速ニアフィールド配光測定システム Rayhunter |
お問い合わせ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光光度計 |
大塚電子 高速ニアフィールド配光測定システム RH50 |
お問い合わせ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 ラインスキャン膜厚計 |
お問い合わせ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 顕微分光膜厚計 OPTM series |
12,000,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 高感度NIR量子効率測定システム QE-5000 |
23,000,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 マルチチャンネル分光器（広ダイナミックレンジタイプ） MCPD-9800 |
5,300,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 マルチチャンネル分光器（標準タイプ）MCPD-6800 |
3,500,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 量子効率測定システム QE-2000 |
5,300,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 分光エリプソメータ FE-5000 / 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S |
9,800,000～ | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 膜厚モニター FE-300 |
3,500,000 | |
 |
分光・発光・蛍光・RI関連機器 分光分析装置・旋光計 |
大塚電子 高速リタデーション測定装置 RE-200 |
5,000,000～ |
- 1
